生產(chǎn)廠家:日本OLYMPUS
設(shè)備型號:LEXT OLS4100
安放地點(diǎn):昌平創(chuàng)新園南樓111
負(fù)責(zé)人:王麗麗
聯(lián)系電話:010-62332598-6111
主要功能:
LEXT OLS4100激光共聚焦顯微鏡采用405nm 的短波長激光和高數(shù)值孔徑的物鏡,通過非接觸的方式進(jìn)行樣品表面三維形貌觀察和測量。它采用了雙共焦系統(tǒng),結(jié)合高靈敏度的探測器,使得具有不同反射率材料的樣品,也能獲得鮮明的影像,它的平面分辨率可達(dá)12μm,最高可分辨10nm的高度差,可以對樣品的表面進(jìn)行亞微米的測量。它可以方便快捷地獲取影像,同時(shí)配備豐富的測量功能。
主要技術(shù)參數(shù):
光源:405 nm 半導(dǎo)體激光
檢出系統(tǒng):光電倍增管
總倍率:108×~17,280×;光學(xué)變焦1×~8×
平面分辨率:0.12μm;重復(fù)性:0.02μm;
正確性:測量值的±2%以內(nèi)
高度分辨率:10nm;重復(fù)性:0.012μm;
正確性:0.2+L/100μm以下(L=測量長度μm)
物鏡:明視場平面半消色差透鏡5×、10×LEXT專用平面復(fù)消色差透鏡20×、50×、100×
Z 對焦部分行程:100mm
XY電動(dòng)載物臺:100×100mm
主要應(yīng)用:
1. 獲取樣品表面的二維及三維影像;
2. 測量輪廓截面上任意兩點(diǎn)之間的高低差異,輪廓測量也同樣可用;
3. 測量線粗糙度,以及平面整體的面粗糙度;
3. 拼接功能獲取樣品全貌圖像;
4. 面積/體積測量:根據(jù)設(shè)置在輪廓截面上的任意閾值,可以測量其上部或下部的體積;
5. 一鍵操作制作報(bào)表功能。
實(shí)驗(yàn)室預(yù)約 :